基于改進(jìn)YOLOv8的印刷電路板缺陷檢測(cè)方法研究

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摘  要：為了解決印刷電路板表面小目標(biāo)缺陷檢測(cè)精度較低與檢測(cè)效率不高的問題，文章提出了基于改進(jìn)YOLOv8的印刷電路板缺陷檢測(cè)方法。在YOLOv8模型主干網(wǎng)絡(luò)中使用簡(jiǎn)單空間金字塔池化融合模塊，采用修正的線性單元激活函數(shù)，有效地提升了檢測(cè)效率；使用改進(jìn)的瓶頸注意力模塊，利用通道注意力分支與空間注意力分支，使模型具有較強(qiáng)的表征能力獲取特征信息，提升了檢測(cè)精度；對(duì)損失函數(shù)進(jìn)行了改進(jìn)，構(gòu)建了WIoU損失函數(shù)，降低了錨框與目標(biāo)框重合時(shí)幾何因素的影響。（剩余10014字）