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摘 要：常規(guī)的數(shù)字溫度傳感器芯片測試通常需要使用支持該芯片通信協(xié)議的上位機進行初步配置，再通過專門的測試設(shè)備進行集成電路測試。然而，這種方式存在硬件復雜、流程繁瑣等缺點，導致其測試成本增加，批量測試難度提高。為此，介紹了一種基于兩線制通信時序的數(shù)字ATE（自動化測試設(shè)備）測試方法，用于生成數(shù)字溫度傳感器的主要功能測試向量。（剩余4764字）
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基于ATE的SIP數(shù)字溫度傳感器測試方法
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