基于改進(jìn)YOLOv7的溴鉛銫薄膜表面缺陷檢測(cè)算法

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摘  要： 為了實(shí)現(xiàn)溴鉛銫薄膜表面缺陷的自動(dòng)檢測(cè)和提高缺陷檢測(cè)的精度，提出一種改進(jìn)的目標(biāo)檢測(cè)算法YOLOv7?DBS。首先，在主干網(wǎng)絡(luò)中設(shè)計(jì)了DCN?ELAN模塊，引入了可變形卷積DCNv3，增強(qiáng)主干網(wǎng)絡(luò)對(duì)復(fù)雜形狀缺陷特征的提取能力；其次，在頸部網(wǎng)絡(luò)中引入BiFormer注意力機(jī)制，降低背景對(duì)于缺陷檢測(cè)的干擾，提升網(wǎng)絡(luò)的檢測(cè)精度；最后，引入了一種具有角度損失的新型損失函數(shù)SIoU替代原始損失函數(shù)CIoU，以增強(qiáng)預(yù)測(cè)框與真實(shí)框的匹配程度，從而提高缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性。（剩余11710字）