EOEG裝置第四效蒸發(fā)器C534上下封頭環(huán)焊縫及拼縫裂紋原因分析

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摘要：某石化公司EOEG裝置第四效蒸發(fā)器C534，在2021年大修檢驗過程中，于上下封頭的環(huán)焊縫及拼縫周邊發(fā)現(xiàn)內(nèi)表面裂紋。筆者通過滲透檢測、硬度檢測、鐵素體含量檢測、金相檢測，對奧氏體不銹鋼上下封頭的環(huán)焊縫及拼接焊縫周邊產(chǎn)生裂紋原因進行分析，結果顯示：由于上下封頭的直邊段材質是奧氏體不銹鋼，在冷加工過程中，部分組織轉變成形變馬氏體；在氯化物及拉應力作用下，導致上下封頭的環(huán)焊縫及拼接焊縫周邊發(fā)生應力腐蝕開裂。（剩余6202字）