運放失調(diào)電壓的激光修調(diào)測試

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摘  要： 目前高精度運算放大器的應(yīng)用愈發(fā)普及，由于集成電路制造工藝的限制，運算放大器的輸入級晶體管和負載電阻無法做到完全匹配，因此需要通過修調(diào)方式提高運放輸入級的匹配度，以此減小失調(diào)電壓。文中介紹了運放失調(diào)電壓的定義和產(chǎn)生的原因，分析了失調(diào)電壓的測試方法，并對常用的失調(diào)電壓修調(diào)方法進行了介紹和對比，總結(jié)了激光修調(diào)的優(yōu)點。（剩余6590字）