基于磁場調(diào)制的原子磁強計單光束檢測翟慧慧

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關(guān)鍵詞：原子磁強計；磁場調(diào)制；單光束；弱磁檢測

中圖分類號：TM 936 文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A

引言

全光法原子磁強計是通過光泵浦對堿金屬原子進(jìn)行極化，然后通過檢測探測光的旋轉(zhuǎn)角度或原子氣室中透射光的強度來獲得外界磁場大小的光學(xué)儀器[1]。全光法原子磁場測量技術(shù)已經(jīng)成為新一代超高靈敏磁場測量技術(shù)[2]。無自旋交換弛豫（spin-exchange relaxation free，SERF）原子磁場測量裝置基于SERF理論，實現(xiàn)了迄今低頻范圍內(nèi)磁場測量的最高靈敏度[3-4]。（剩余2890字）