基于故障樹法的電機(jī)驅(qū)動芯片故障分析與改進(jìn)

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摘  要：在高負(fù)載狀態(tài)下，電機(jī)重復(fù)出現(xiàn)異常停機(jī)情況，且每次異常的工況和反饋數(shù)據(jù)均一致。電機(jī)驅(qū)動芯片為MSK4322HD，測量發(fā)現(xiàn)該芯片某PWM信號管腳對地阻抗由高阻態(tài)變?yōu)榈妥钁B(tài)，開帽后，在相應(yīng)PWM信號對應(yīng)的MOS管處發(fā)現(xiàn)燒蝕痕跡，判斷為芯片內(nèi)部MOS管損傷。針對該故障展開分析。首先，采用故障樹分析法列出相關(guān)底事件，根據(jù)電路遠(yuǎn)離開展測試，逐一排查，最終定位故障為異常相序信號導(dǎo)致的過流損傷；其次，進(jìn)行機(jī)理分析，發(fā)現(xiàn)異常相序信號是由電機(jī)實(shí)時換相、換相導(dǎo)致PWM低電平信號持續(xù)特定時間及高負(fù)載3種正常條件耦合引起的，對三者任一解耦即可解決。（剩余8464字）