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摘要：偏折術由于其測量系統(tǒng)簡單、動態(tài)范圍大、抗干擾能力強，在復雜光學曲面的面形與缺陷檢測方面具有獨特優(yōu)勢。但是偏折測量的操作復雜、影響因素多、數(shù)據(jù)傳遞鏈條長，嚴重限制了其在工程實踐中的應用。為此，本文介紹了偏折術的工作原理和發(fā)展脈絡，列舉了主要測量步驟，包括結構設計、系統(tǒng)標定、編碼與物像匹配以及積分重構。（剩余146字）
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光學曲面的偏折測量技術：原理、挑戰(zhàn)與展望（特邀）
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