面向水稻穗上谷粒原位計(jì)數(shù)與遮擋還原的輕量級(jí)I2I 深度學(xué)習(xí)方法

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摘要： 【目的】為解決傳統(tǒng)水稻考種機(jī)谷粒表型分析算法在功能和效率上的局限性，針對(duì)穗上谷粒原位計(jì)數(shù)和被遮擋谷粒幾何特征還原設(shè)計(jì)一種基于深度學(xué)習(xí)的輕量級(jí)通用算法框架?！痉椒ā繉⑺肷瞎攘Ｔ挥?jì)數(shù)與被遮擋谷粒還原這2 個(gè)復(fù)雜任務(wù)分別拆解為2 個(gè)階段，將其核心階段建模為I2I 問題?；贛obileNet V3 設(shè)計(jì)1 種能夠解決I2I 問題的輕量級(jí)網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)，并針對(duì)2 個(gè)任務(wù)的特點(diǎn)分別設(shè)計(jì)了數(shù)據(jù)集圖像制作方法，選擇合適的優(yōu)化策略和超參數(shù)對(duì)其進(jìn)行訓(xùn)練。（剩余2245字）