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摘要：光學(xué)干涉檢測領(lǐng)域的不斷發(fā)展要求檢測儀器具備更高的橫向分辨率。高分辨率意味著處理時間變長，測試效率變低。為提高測試效率，提出了一種利用 CPU/GPU 異構(gòu)計算并行加速的Zernike 多項式絕對平面檢測方法。該方法使用CPU 進行流程控制，利用GPU 多核優(yōu)勢將檢測平面中的元素離散并行求解，并在Zernike 系數(shù)求解中使用混合精度，在峰谷值和均方根值求解中使用線程束原語指令進一步優(yōu)化性能。（剩余2054字）
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異構(gòu)加速絕對平面檢測
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