注冊帳號丨忘記密碼？
1.點擊網(wǎng)站首頁右上角的“充值”按鈕可以為您的帳號充值
2.可選擇不同檔位的充值金額，充值后按篇按本計費
3.充值成功后即可購買網(wǎng)站上的任意文章或雜志的電子版
4.購買后文章、雜志可在個人中心的訂閱/零買找到
5.登陸后可閱讀免費專區(qū)的精彩內(nèi)容
打開文本圖片集
關鍵詞：光學計量;傾斜入射;平面度;絕對檢驗;二次反射棱鏡
引言
平面度是光學干涉計量領域中基礎的測量標準，國家規(guī)程規(guī)定以兩個截面上的直線度量值計算平面度，因此直線度也是國家量值傳遞體系中重要的一環(huán)[1]。傳統(tǒng)情況下使用等傾干涉儀測量標準平晶、長平晶、平面平晶的平面度誤差，其原因為等傾干涉儀可以通過干涉條紋精確地測量多點的高程差[2-4]。（剩余3104字）
登錄龍源期刊網(wǎng)
購買文章
傾斜入射下的單截面平面度絕對檢驗
文章價格：4.00元
當前余額：100.00
閱讀
您目前是文章會員，閱讀數(shù)共：0篇
剩余閱讀數(shù)：0篇
閱讀有效期：0001-1-1 0:00:00
違法和不良信息舉報電話：400-106-1235
舉報郵箱：longyuandom@163.com